采用激光共聚焦原理，用于显微图像观察分析、精密测量、3D成像、3D轮廓测量、纳米级粗糙度测量，精密膜厚测量等。

显微观察：

3D显微组织：

激光3D：

电子器件精密测量：

纳米级别粗糙度测量：

3D轮廓测量：